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    儀器設備equipment

    過濾介質測試系統
    Palas?濾材試驗系統MFP Nano plus 4000

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    應用

    產品開發與產品監測中的過濾介質以及微型過濾器的測試

    檢測方法基于歐洲標準體系德國標準化組織DIN EN 1822-3標準(高效空氣過濾器/超高效空氣過濾器)以及國際標準化組織ISO 29463-3標準

    粒徑為20納米至1微米的其它過濾介質的分級分離效率測量


    特性

    實時測定10 nm以上的分級分離效率

    確定分級分離效率所需的測量時間,一半用于測量未凈化氣體粒子濃度,一半用于確定純凈氣體粒子濃度。

    不需要稀釋!

    將兩個UF-CPC版本結合使用,UF-CPC用于最高濃度未凈化氣體(單一計數模式,高達2,000,000 粒子/cm3),而UF-CPC 50用于低濃度純凈氣體(達到最高計數率),相對應的稀釋因子比為1:200。

    符合歐洲標準體系德國標準化組織DIN EN 1822-3標準以及國際標準化組織ISO 29463-3標準,國際通用的可比較測量結果

    便于采用不同的氣溶膠,例如氯化鈉/氯化鉀或者癸二酸二異辛酯(其它響應要求的氣溶膠成分)

    對分級分離效率的測量以及最易穿透粒徑(MPPS)范圍的測定十分便捷

    試驗方法的高再現性

    靈活多用的過濾器試驗軟件—FTControl

    易于操作,即便是未經過培訓的人員也可快速培訓掌握設備的使用

    客戶可根據情況獨自清洗設備

    安裝時間短、結果輸出快

    可移動設備,可通過腳輪方便地進行移動

    在出廠前的驗收測試中以及出廠時確切驗證各部件以及整個系統的功能

    功能可靠

    幾乎無需維護


    說明

    經過諸多的實踐驗證,Palas?已經能夠證明其MFP過濾器試驗裝置在全世界范圍內產品開發與質量控制實際應用中,具有足夠的能力與水平。

    MFP Nano plus 4000檢測系統特別用于按照歐洲標準體系德國標準化組織DIN EN 1822-3標準以及國際標準化組織ISO 29463-3標準,對高效空氣過濾器以及超高效空氣過濾器過濾介質的分離效率進行清晰準確的測定。

    U-SMPS型號裝備有現代化的、功能強大的納米級粒子檢測設備,其測量范圍為5nm~1μm,用于對粒度以及數量進行分析。

    采用MFP Nano plus 4000和UF-CPC凝聚粒子計數器,可實時測量未凈化氣體和純凈氣體在一定尺寸條件下的分級除塵效率。

    采用MFP Nano plus 4000實時測量分級分離效率有以下獨特優勢:

    通過測量未凈化氣體和純凈氣體中的粒子濃度,確定分級分離效率所用的測量時間均分。

    將兩個UF-CPC版本結合使用,UF-CPC用于最高濃度未凈化氣體(單一計數模式,高達2,000,000 粒子/cm3),而UF-CPC 50用于低濃度純凈氣體(達到最高計數率),相對應的稀釋因子比為1:200。因此沒有必要再進行傳統的氣溶膠稀釋。

    憑借通用氣溶膠發生器UGF 2000,可以使用癸二酸二異辛酯或者鹽類(氯化鈉/氯化鉀)作為氣溶膠,對與最易穿透粒徑(MPPS)范圍相匹配的氣溶膠分布進行定義與檢測。

    大部分測試程序實現了自動化排序,同時過濾器試驗軟件FTControl針對單個部件進行了清晰的定義并提供了可調節的序列程序,上述兩方面因素互相結合,確保能夠給出高可靠度的測量結果。

    HFP過濾器試驗裝置是一種模塊化的過濾器測試系統,用于對平面過濾介質以及小微型過濾器進行相關測試??稍诤芏痰臅r間內測出壓力損失曲線、分級分離效率或者配料情況——結果可靠且具有成本效益。

    技術詳情:

    1、UGF2000可選用氯化鉀/氯化鈉或者癸二酸二異辛酯生成多種氣溶膠。綜合Nafion干燥系統。所產生氣溶膠的容積流量由質量流量控制器單獨進行管控。?

    2、氣溶膠的中和:氪發生源Kr-85-370

    電暈放電(可選):可針對不同的質量流量調節粒子流混合空氣,在入流速度為1.5至40cm/s的范圍內可調。通過質量流量控制器進行監測與控制。

    3、移動氣動濾光片夾可快速移動和加載綜合DEMC 2000(差示電子遷移率器)的試驗裝置。U-SMPS中集成的DEMC 2000(差示電子遷移率器)可對采用UGF 2000生成的多分散氣溶膠的粒度進行分類。在DEMC 2000下游只包含單分散粒子。相關尺寸由DEMC 2000控制單元自動調整。

    4、采用UF-CPC 200測量高濃度下的未凈化氣體數量分配

    為測量未凈化氣體內的粒子數量,可采用UF-CPC 200凝聚粒子計數器以單一計數模式計數粒子(可達2,000,000粒子/cm3)。也就是說,在測量非常高濃度的未凈化氣體時,不需要采用稀釋系統。無需對系統進行長時間的或者復雜的清理。

    5、采用UF-CPC 50測量低濃度下的純凈氣體數量分配

    “全流量”UF-CPC 50經過優化可用于測量低粒子濃度(單一計數模式下可達10,000 粒子/cm3)的純凈氣體。采用UF-CPC進行“全流量”粒子測量時,完整分析整個樣本容積流量。也就是說,可以在低粒子濃度的純凈氣體中實現高計數率。

    Palas?過濾器試驗軟件FTControl可以控制U-SMPS并評估數據。

    氣溶膠粒徑在最易穿透粒徑(MPPS)范圍內的分布調節

    通過對溶液濃度的適當調節,所生成的粒度分布情況與MFP Nano plus 4000檢測系統中相應的最易穿透粒徑(MPPS)范圍相符合。

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    整個測量范圍內,過濾介質分級分離效率的清晰測定

    最易穿透粒徑(MPPS)范圍的清晰測定

    最高的測量再現性以及可重復性,即便各分離效率之間存在微小的差異性也能進行區分

    由于最優化氣溶膠的應用,縮短了測量時間,每項分離效率的測試僅需2分鐘

    還可方便地實現分離效率曲線的比較與平均值的計算

    自動:?

    MFP Nano plus 4000具有集成的質量流量控制器,用來控制容積流量;可通過過濾器試驗軟件FTControl,實現對上述功能的自動監視與控制。

    傳感器數據,例如容積流量以及過濾器的不同壓力也會在過濾器試驗過程中被自動記錄下來。

    驗證未凈化氣體和純凈氣體的取樣一致性:

    初始培訓課程中展示了如何不采用過濾器驗證未凈化氣體和純凈氣體的測量一致性。

    可在最易穿透粒徑(MPPS)范圍以及整個測量范圍內,通過MFP Nano plus 4000檢測系統對濾料分級分離效率進行檢測。此外,在相應入流速度下可以清晰地檢測出過濾介質的相應壓力損失。


    數據表

    測量范圍(粒度) 粒徑譜儀U-SMPS 2050:10~800nm

    容積流量     0.54~16m3/h(加壓運行)

    電源       115/230V,50/60Hz

    尺寸大小     約為600?1800?900毫米(寬?高?深)

    流入速率     1.5~40 cm/s(根據要求也可以提供其他流入速率)

    壓差測量     0~2500Pa(可按照要求采用其它壓力范圍)

    介質測試區    100cm2

    氣溶膠      粉塵(如SAE粉末)、鹽類(如氯化鈉、氯化鉀)、液體氣溶膠(如癸二酸二異辛酯)

    壓縮空氣供應   6~8barg


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